top of page
Основные направления исследований
Материаловедение
1) Комплексный анализ структуры и теплофизических свойств тонких пленок и наноструктурированных материалов, используя комбинацию современных методов:
-
рентгеновской дифракции в больших и малых углах, в том числе со скользящим и нанофокусным пучками,
-
дифференциальной сканирующей калориметрии,
-
сканирующей зондовой микроскопии,
-
оптической микроскопии.
2) Создание моделей формирования кристаллической и жидкокристаллической структуры различных классов материалов, основываясь на экспериментальных данных, полученных с помощью УНУ.
3) Создание моделей для супрамолекулярной морфологии для различных классов материалов, основываясь на экспериментальных данных, полученных с помощью УНУ.
4) Разработка подхода, описывающего формирование неравновесных кристаллических фаз через промежуточные метастабильные состояния, основываясь на экспериментальных данных, полученных с помощью УНУ.
Приборостроение
1) Дополнение существующей кострукции УНУ новыми модулями и модификация существующих компонентов УНУ для реализации методов анализа исследования структуры и теплофизических свойств наноструктурированных материалов.
2) Разработка и модификация существующих методических материалов по работе с УНУ.
-
Разработка и модификация методики измерения массы отдельных наночастиц при помощи кантилевера АСМ, позволяющей количественно измерять теплофизические параметры непосредственно для наноматериалов.
-
Разработка и модификация методики проведения на УНУ экспериментальных исследований структуры и теплофизических свойств наноструктурированных материалов.
-
Разработка и модификация методики для комплексного анализа структуры и теплофизических свойств тонких пленок и наноструктурированных материалов, используя комбинацию современных методов.
-
Разработка и модификация методики формирования метастабильной текстуры тонких органических полупроводниковых пленок.
3) Оптимизация процесса доработки и модификации УНУ в целях ее дальнейшей интеграции на максимально возможное количество распространенных исследовательских платформ и приборов. Переход на новый форм-фактор "лаборатория на микрочипе" для измерительного элемента УНУ.
bottom of page